Kategorie produktów

Systemy X-RAY

System rentgenowski SEC X-EYE 5100F

Producent

SEC

Cena netto

dostępna po zapytaniu

numer katalogowy

SX-5100F

  • System Rentgenowski o wysokiej wydajności
  • X - eye 5100F to system do inspekcji rentgenowskiej o wysokiej wydajności przeznaczony do niepowodujących zniszczeń analiz oraz diagnostyki uszkodzeń
  • Zamknięta lampa typu micro - focus napięciu 100kV oraz wysokiej rozdzielczości płaski detektor modelu X - eye 5100F gwarantują wysokiej jakości obraz nawet przy dużym powiększeniu
  • Dzięki wieloosiowemu systemowi sterowania, system X - eye 5100F może z łatwością badać obiekty przy dowolnym powiększeniu. Funkcja automatycznego uczenia powoduję, że urządzenie świetnie sprawdzi się jako półautomatyczny system kontroli jakości
  • Urządzenie X - eye 5100F jest wyposażone w przyjazne dla użytkownika oprogramowanie operacyjne zawierające narzędzia pomiarowe oraz umożliwiające nanoszenie komentarzy
  • Zainstalowana w urządzeniu lampa rentgenowska typu micro - focus o mocy 100~130kV oraz płaski detektor wysokiej rozdzielczości gwarantują najwyższą jakość obrazu
  • Prosta obsługa oraz bezproblemowa konserwacja urządzenia to przyjazne dla użytkownika cechy urządzenia oferującego również możliwości rozbudowy o dodatkowe funkcje w zależności od potrzeb i budżetu klienta
  • Promieniowanie zewnętrzne: <1usv/H
  • Analiza w czasie rzeczywistym
  • Funkcja zapamiętywanie parametrów i wyborów trybu pracy
  • Zarządzenie uprawnieniami dostępu
  • Funkcja automatycznego histogramu
  • Oprogramowanie filtrujące i korygujące zniekształcenia obrazu
  • Lampa X - ray:
  • - Napięcie: maks. 100kV
  • - Natężenie: maks. 200uA
  • - Ogniskowa: 5um
  • - Typ lampy: zamknięta, typu micro - focus - Obrazowanie X - ray:
  • - Detektor X - ray: płaski CMOS
  • - Powiększenie: Max. 130X - Manipulator (Zrobotyzowany stół):
  • - 4 - osiowy (X, Y, Z, T?)
  • - Sterowanie z poziomu pulpitu ("jog - sticks") lub za pomocą myszy
  • - Rozmiar stołu: 340x460 mm
  • - (Zakres osi X: 420 mm, osi Y: 300 mm, odchylenie T:±45°)
  • Stanowisko pracy i oprogramowanie:
  • - Intel® Xeon CPU E3 - 1225 v3, @3.20GHz 8G RAM, HDD 500GB x2
  • - Monitor 24” LCD
  • - System operacyjny: Microsoft® Windows 7®
  • - Oprogramowanie operacyjne X - EYE
  • - Oprogramowanie pomiarowe do automatycznego określania poziomu "voidingu"
  • ZALETY
  • Prosta obsługa i wiele przydatnych funkcji
  • Elastyczne oprogramowanie dla produkcji wieloseryjnej SMT oraz komponentów elektronicznych
  • Nieniszczące badania półprzewodników SMT oraz komponentów elektronicznych
  • Możliwość automatyzacji kontroli jakości
  • Wysoka jakość obrazu nawet przy dużym powiększeniu
  • Łatwe w użyciu narzędzia pomiarowe i możliwość nanoszenia komentarzy
Kod towaru
SX-5100F
Wymiary
1270x1020x1460 mm
Zasilanie
AC 220V/60Hz (jednofazowe)
twoje dane
Dane znajomego/znajomej
Filmy
opis
  • System Rentgenowski o wysokiej wydajności
  • X - eye 5100F to system do inspekcji rentgenowskiej o wysokiej wydajności przeznaczony do niepowodujących zniszczeń analiz oraz diagnostyki uszkodzeń
  • Zamknięta lampa typu micro - focus napięciu 100kV oraz wysokiej rozdzielczości płaski detektor modelu X - eye 5100F gwarantują wysokiej jakości obraz nawet przy dużym powiększeniu
  • Dzięki wieloosiowemu systemowi sterowania, system X - eye 5100F może z łatwością badać obiekty przy dowolnym powiększeniu. Funkcja automatycznego uczenia powoduję, że urządzenie świetnie sprawdzi się jako półautomatyczny system kontroli jakości
  • Urządzenie X - eye 5100F jest wyposażone w przyjazne dla użytkownika oprogramowanie operacyjne zawierające narzędzia pomiarowe oraz umożliwiające nanoszenie komentarzy
  • Zainstalowana w urządzeniu lampa rentgenowska typu micro - focus o mocy 100~130kV oraz płaski detektor wysokiej rozdzielczości gwarantują najwyższą jakość obrazu
  • Prosta obsługa oraz bezproblemowa konserwacja urządzenia to przyjazne dla użytkownika cechy urządzenia oferującego również możliwości rozbudowy o dodatkowe funkcje w zależności od potrzeb i budżetu klienta
  • Promieniowanie zewnętrzne: <1usv/H
  • Analiza w czasie rzeczywistym
  • Funkcja zapamiętywanie parametrów i wyborów trybu pracy
  • Zarządzenie uprawnieniami dostępu
  • Funkcja automatycznego histogramu
  • Oprogramowanie filtrujące i korygujące zniekształcenia obrazu
  • Lampa X - ray:
  • - Napięcie: maks. 100kV
  • - Natężenie: maks. 200uA
  • - Ogniskowa: 5um
  • - Typ lampy: zamknięta, typu micro - focus - Obrazowanie X - ray:
  • - Detektor X - ray: płaski CMOS
  • - Powiększenie: Max. 130X - Manipulator (Zrobotyzowany stół):
  • - 4 - osiowy (X, Y, Z, T?)
  • - Sterowanie z poziomu pulpitu ("jog - sticks") lub za pomocą myszy
  • - Rozmiar stołu: 340x460 mm
  • - (Zakres osi X: 420 mm, osi Y: 300 mm, odchylenie T:±45°)
  • Stanowisko pracy i oprogramowanie:
  • - Intel® Xeon CPU E3 - 1225 v3, @3.20GHz 8G RAM, HDD 500GB x2
  • - Monitor 24” LCD
  • - System operacyjny: Microsoft® Windows 7®
  • - Oprogramowanie operacyjne X - EYE
  • - Oprogramowanie pomiarowe do automatycznego określania poziomu "voidingu"
  • ZALETY
  • Prosta obsługa i wiele przydatnych funkcji
  • Elastyczne oprogramowanie dla produkcji wieloseryjnej SMT oraz komponentów elektronicznych
  • Nieniszczące badania półprzewodników SMT oraz komponentów elektronicznych
  • Możliwość automatyzacji kontroli jakości
  • Wysoka jakość obrazu nawet przy dużym powiększeniu
  • Łatwe w użyciu narzędzia pomiarowe i możliwość nanoszenia komentarzy
dane techniczne
Kod towaru
SX-5100F
Wymiary
1270x1020x1460 mm
Zasilanie
AC 220V/60Hz (jednofazowe)
dokumenty
zapytaj o produkt

poleć produkt
twoje dane
Dane znajomego/znajomej
Filmy

nasze marki